從中國國家知識產(chǎn)權局獲得的信息，華碧上海近日再獲一發(fā)明專利授權，發(fā)明名稱為《集成電路缺陷定位測試系統(tǒng)》，專利號為200810037221.0。
《集成電路缺陷定位測試系統(tǒng)》提供一種集成電路缺陷定位測試系統(tǒng)及實現(xiàn)方法，利用本發(fā)明,可直接對集成電路的各種不同類型缺陷,實現(xiàn)直觀的物理位置缺陷定位功能,能夠及時、準確地發(fā)現(xiàn)集成電路的缺陷,從而改進產(chǎn)品質(zhì)量、加快研發(fā)速度、提高生產(chǎn)工藝水平。
華碧鑒定所通過技術研發(fā)和知識產(chǎn)權保護，目前多項專利填補了國內(nèi)產(chǎn)品質(zhì)量鑒定領域的技術空白。"
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