2013年7月17日，第20屆IEEE國(guó)際集成電路物理與失效分析會(huì)議(IPFA 2013)在蘇州香格里拉大酒店隆重開幕，華碧檢測(cè)作為IPFA大會(huì)合作伙伴到場(chǎng)祝賀并與前來(lái)參會(huì)的業(yè)界新老朋友一起共敘行業(yè)發(fā)展與深厚友誼。
IPFA2013大會(huì)由IEEE南京分會(huì)主辦，IEEE Reliability/CPMT/ED新加坡分會(huì)、蘇州市電子學(xué)會(huì)協(xié)辦，由IEEE 電子器件協(xié)會(huì)與IEEE可靠性協(xié)會(huì)等提供技術(shù)支持，是在中國(guó)舉辦的有關(guān)集成電路與器件方面規(guī)模*大、影響*大的國(guó)際會(huì)議。
本屆大會(huì)邀請(qǐng)了中國(guó)、美國(guó)、歐洲、新加坡、日本及亞太其他各國(guó)專家作大會(huì)報(bào)告和分會(huì)邀請(qǐng)報(bào)告，是國(guó)內(nèi)外微電子領(lǐng)域的研究人員之間交流信息和了解國(guó)際、國(guó)內(nèi)*新進(jìn)展的一次極佳機(jī)會(huì)；華碧將攜其失效分析研究與實(shí)踐的*新成果與心得在本屆大會(huì)上分享與交流。
華碧檢測(cè)CEO劉學(xué)森先生（左一）與IPFA2013大會(huì)主席宋先忠先生（中）等貴賓合影
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