2013年7月18日晚,第20屆IEEE國際集成電路物理與失效分析會議(IPFA 2013)在蘇州金河國際酒店舉行盛大的Dinner&Dinner Show,華碧檢測CEO劉學森先生出席晚宴并做主題致辭,向現(xiàn)場嘉賓大展失效分析宏圖,并分享了華碧在失效分析領(lǐng)域的探索成果。
華碧在近年來的發(fā)展中,一直定位于以失效分析為基礎(chǔ),深入診斷問題產(chǎn)品的質(zhì)量與工藝、設(shè)計與缺陷,進行產(chǎn)品質(zhì)量檢測、產(chǎn)品失效定位、工藝失效分析,以及可靠性設(shè)計等,為客戶的產(chǎn)品改善提供準確的分析報告與改善建議,幫助客戶提升產(chǎn)品質(zhì)量與市場競爭力。華碧的一體化解決方案模式,贏得了客戶的肯定,也為失效分析技術(shù)的商業(yè)應(yīng)用找到了更廣闊的前景。劉學森在致辭中呼吁:失效分析對全社會的整個工業(yè)和工藝水平都意義深遠!號召業(yè)界伙伴攜手共創(chuàng)新的行業(yè)高度!
晚宴在頗具夏威夷風情的酒會氛圍中進行,來自中國、美國、歐洲、新加坡、日本及亞太其他各國專家和業(yè)界代表120余人出席了本次Dinner Show,并進行了輕松愉快、深入友好的交流。
華碧檢測CEO劉學森先生在IPFA2013 Dinner Show致辭
來自新加坡IPFA總部的Dr. JM Chin, AMD(左)與華碧檢測CEO劉學森先生(右)親切合影
輕松的酒會,愉快的相聚